GSM-сигнализация: производство и поставки
15:34 Торжественная церемония вручения премии «Глобальная энергия» состоится в рамках форума «Российская энергетическая неделя»
13:34 Новые микросхемы для LED-драйверов LYTSwitch-6 со встроенным транзистором от Power Integrations
11:34 Рабочая встреча «Изолятор» в Межрегиональной распределительной сетевой компании Волги
09:30 В Москве состоится Министерская встреча форума стран – экспортеров газа

«Серния Инжиниринг» совместно с Tektronix International, Inc проведет мастер-класс

Российское представительство Tektronix International, Inc совместно с ООО «Серния Инжиниринг» приглашают посетить мастер-класс по тестированию полупроводниковых приборов и материалов с использованием измерительных систем Keithley. Вы сможете не только ознакомиться с процессом измерения ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ, но и протестировать свои образцы.

Дата и время: 18 сентября, 10.00-15.00

Комплекс, состоящий из параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS и зондовой станции Semiprobe PS4L M6, позволяет:

  • производить измерения характеристик: пассивных компонентов (резисторов, конденсаторов, МОП-конденсаторов, элементов межсоединений и т.д.), активных компонентов (диодов, стабилитронов, биполярных транзисторов, МОП-транзисторов, светодиодов, лазерных диодов и т.д.), электронных микросхем, дисплеев на органических светодиодах, солнечных батарей, субмикронных КМОП устройств, а также устройств со сверхпроводниками;
  • математически анализировать полученные результаты и выводить результаты измерений в табличном и графическом виде.

Помимо параметрического анализатора спектра 4200A-SCS, Вы также сможете увидеть и самостоятельно поработать с:

  • Прецизионным источником-измерителем Keithley 2636B, с помощью которого Вы смогли бы произвести характеризацию следующих дискретных и пассивных компонентов: двухэлектродных — датчики, варисторы, диоды, стабилитроны, конденсаторы, термисторы; трехэлектродных — транзисторы биполярные с малым сигналом перехода (BJT), полевые транзисторы (FET); оптоэлектронных устройств, таких как: светодиоды, лазерные диоды, сверхяркие светодиоды (HBLED), полупроводниковые лазеры с вертикальным резонатором и поверхностным излучением (VCSEL); солнечных батарей.
  • Измерительным комплексом для измерения удельного сопротивления диэлектрических материалов до 200 ГОм, состоящий из источника напряжения Keithley 2461 + электрометра Keithley 6514 + тестовой камеры Keithley 8009. На данном стенде Вы сможете измерить как поверхностное, так и объёмное удельное сопротивление диэлектрических материалов. Размеры тонколистных образцов: от 65 до 100 мм в диаметре (или квадратный образец до 100×1000 мм) и до 3 мм в толщину.

Регистрация на мастер-класс

Источник

Читайте также